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Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben

英語: Scanning electron microscope for imaging and quantitative analysis of geological samples

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発注者
ETH Zürich - D-EAPS
国
スイス
締切
2026/11/1112日後
分野
製造・産業供給
CPVコード
38511000 Electron microscopes
公開日
2026/09/30

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その他の入札：スイス

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