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Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben

英文: Scanning electron microscope for imaging and quantitative analysis of geological samples

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采购方
ETH Zürich - D-EAPS
国家
瑞士
截止日期
2026年11月11日12 天后
行业
制造与工业供应
CPV 代码
38511000 Electron microscopes
发布时间
2026年9月30日

完整描述、文件、采购方联系方式和官方门户链接在免费试用中开放。

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