Δημόσιος διαγωνισμός Ανοιχτός

The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

Δείτε την πλήρη προκήρυξη και τα έγγραφα: ξεκινήστε τη δωρεάν δοκιμή

Δωρεάν δοκιμή 14 ημερών. Χωρίς κάρτα.

Αγοραστής
Danmarks Tekniske Universitet - DTU
Χώρα
Δανία
Προθεσμία
16 Νοε 2026σε 17 ημέρες
Κλάδος
Μεταποίηση και βιομηχανικός εφοδιασμός
Κωδικός CPV
38511100 Ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης
Δημοσιεύθηκε
15 Οκτ 2026

Η πλήρης περιγραφή, τα έγγραφα, τα στοιχεία επικοινωνίας της αναθέτουσας αρχής και ο σύνδεσμος προς την επίσημη πύλη είναι διαθέσιμα με τη δωρεάν δοκιμή.

Περισσότεροι διαγωνισμοί: Δανία

Παρόμοιοι ανοιχτοί διαγωνισμοί

  1. IHC Staining, Equipment and Equipment-Specific Consumables
    Region Hovedstaden Προθεσμία: 2 Νοε 2026
  2. One Photonic Wafer Probe Station and one Photonic Assembly Station
    Danmarks Tekniske Universitet - DTU Προθεσμία: 2 Νοε 2026
  3. TLA solution for Preanalytics, Coagulation and Microbiology at KB Rigshospitalet.
    Region Hovedstaden Προθεσμία: 5 Νοε 2026
  4. Re-tender of glass scanners (WSI) for pathology
    Region Midtjylland Region Nordjylland Region Syddanmark Region Sjælland Region Hovedstaden Προθεσμία: 10 Νοε 2026
  5. Equipment for Energy Hub at Aalborg University
    Aalborg Universitet Προθεσμία: 13 Νοε 2026
  6. Digital meters and data retrieval for Ringsted Forsyning A/S
    C. Hardam ApS RINGSTED FORSYNING A/S Προθεσμία: 20 Νοε 2026
  7. Automated equipment for cultivation and resistance determination of bacteriological samples
    Region Hovedstaden Προθεσμία: 24 Νοε 2026
  8. 4 EA Magnetic Measurement Table cf. AEODP-07
    Forsvarsministeriets Materiel og Indkøbsstyrelse Προθεσμία: 9 Δεκ 2026