공공 입찰 진행 중

The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

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발주기관
Danmarks Tekniske Universitet - DTU
국가
덴마크
마감일
2026. 11. 16.17일 후
분야
제조 및 산업 공급
CPV 코드
38511100 Scanning electron microscopes
공고일
2026. 10. 15.

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