Appel d’offres public Ouvert

The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

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Acheteur
Danmarks Tekniske Universitet - DTU
Pays
Danemark
Date limite
16 nov. 2026dans 17 jours
Secteur
Fabrication et fournitures industrielles
Code CPV
38511100 Microscopes électroniques à balayage
Publié
15 oct. 2026

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