Государственный тендер Открыт

The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

Полное извещение и документы: начните бесплатный пробный период

14 дней бесплатно. Карта не нужна.

Заказчик
Danmarks Tekniske Universitet - DTU
Страна
Дания
Срок подачи
16 нояб. 2026 г.через 17 дн.
Отрасль
Производство и промышленные поставки
Код CPV
38511100 Scanning electron microscopes
Опубликовано
15 окт. 2026 г.

Полное описание, документы, контакты заказчика и ссылка на официальный портал доступны в бесплатном пробном периоде.

Другие тендеры в Дании

Похожие открытые тендеры

  1. IHC Staining, Equipment and Equipment-Specific Consumables
    Region Hovedstaden Срок подачи: 2 нояб. 2026 г.
  2. One Photonic Wafer Probe Station and one Photonic Assembly Station
    Danmarks Tekniske Universitet - DTU Срок подачи: 2 нояб. 2026 г.
  3. TLA solution for Preanalytics, Coagulation and Microbiology at KB Rigshospitalet.
    Region Hovedstaden Срок подачи: 5 нояб. 2026 г.
  4. Re-tender of glass scanners (WSI) for pathology
    Region Midtjylland Region Nordjylland Region Syddanmark Region Sjælland Region Hovedstaden Срок подачи: 10 нояб. 2026 г.
  5. Equipment for Energy Hub at Aalborg University
    Aalborg Universitet Срок подачи: 13 нояб. 2026 г.
  6. Digital meters and data retrieval for Ringsted Forsyning A/S
    C. Hardam ApS RINGSTED FORSYNING A/S Срок подачи: 20 нояб. 2026 г.
  7. Automated equipment for cultivation and resistance determination of bacteriological samples
    Region Hovedstaden Срок подачи: 24 нояб. 2026 г.
  8. 4 EA Magnetic Measurement Table cf. AEODP-07
    Forsvarsministeriets Materiel og Indkøbsstyrelse Срок подачи: 9 дек. 2026 г.