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The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

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14 天免费试用。无需银行卡。

采购方
Danmarks Tekniske Universitet - DTU
国家
丹麦
截止日期
2026年11月16日17 天后
行业
制造与工业供应
CPV 代码
38511100 Scanning electron microscopes
发布时间
2026年10月15日

完整描述、文件、采购方联系方式和官方门户链接在免费试用中开放。

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