सरकारी टेंडर खुला
The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source
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- खरीदार
- Danmarks Tekniske Universitet - DTU
- देश
- डेनमार्क
- अंतिम तिथि
- 16 नव॰ 202617 दिन में
- क्षेत्र
- विनिर्माण और औद्योगिक आपूर्ति
- CPV कोड
- 38511100 Scanning electron microscopes
- प्रकाशित
- 15 अक्टू॰ 2026
पूरा विवरण, दस्तावेज़, खरीदार के संपर्क और आधिकारिक पोर्टल का लिंक मुफ़्त ट्रायल में खुलते हैं।
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