Öffentliche Ausschreibung Offen

The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

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Auftraggeber
Danmarks Tekniske Universitet - DTU
Land
Dänemark
Frist
16.11.2026in 17 Tagen
Branche
Fertigung & Industriebedarf
CPV-Code
38511100 Rasterelektronenmikroskope
Veröffentlicht
15.10.2026

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